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可测试性设计

kě cè shì xìng shè jì · ㄎㄜˇ ㄘㄜˋ ㄕˋ ㄒㄧㄥˋ ㄕㄜˋ ㄐㄧˋ

释义

「可测试性设计」是什么意思？

数据更新：2026-07-11 13:20:25

词语	可测试性设计
拼音	kě cè shì xìng shè jì
拼音字母	ke ce shi xing she ji
拼音首字母	kcsxsj
注音	ㄎㄜˇ ㄘㄜˋ ㄕˋ ㄒㄧㄥˋ ㄕㄜˋ ㄐㄧˋ
注音符号	ㄎㄜㄘㄜㄕㄒㄧㄥㄕㄜㄐㄧ

扩展释义

可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。

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