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数据更新：2026-07-16 10:42:06
| 词语 | 归一化探测率 |
|---|---|
| 拼音 | guī yī huà tàn cè lǜ |
| 拼音字母 | gui yi hua tan ce lv |
| 拼音首字母 | gyhtcl |
| 注音 | ㄍㄨㄟ ㄧ ㄏㄨㄚˋ ㄊㄢˋ ㄘㄜˋ ㄌㄩˋ |
| 注音符号 | ㄍㄨㄟ ㄧ ㄏㄨㄚ ㄊㄢ ㄘㄜ ㄌㄩ |
归一化探测率（Normalized Detectivity）是光电探测器的主要性能指标之一，即比探测率。该指标描述的是探测器材料对弱光的探测能力。图片所示是几种常用探测器的归一化探测率值，数值越大表示性能越好。