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shuān suǒ xiào yīng · ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛˇ ㄒㄧㄠˋ ㄧㄥ
数据更新：2026-07-12 00:38:28
闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。