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数据更新：2026-07-12 06:19:11
| 词语 | 跌落试验 |
|---|---|
| 拼音 | diē luò shì yàn |
| 拼音字母 | die luo shi yan |
| 拼音首字母 | dlsy |
| 注音 | ㄉㄧㄝ ㄌㄨㄛˋ ㄕˋ ㄧㄢˋ |
| 注音符号 | ㄉㄧㄝ ㄌㄨㄛ ㄕ ㄧㄢ |
跌落试验又名“包装跌落测试机”，为产品包装后在模拟不同的棱、角、面于不同的高度跌落于地面时的情况，从而了解产品受损情况及评估产品包装组件在跌落时所能承受的堕落高度及耐冲击强度。从而根据产品实际情况及国家标准范围内进行改进、完善包装设计。参照标准：GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ed：自由跌落